반도체 수율

반도체 업에선 수율, yield는 제작하려고 넣은 Die(wafer) 중 잘 제작된 Die의 개수입니다.

 

수율은 무작위적 불량에 의한 수율과 구조적 불량에 의한 수율이 있습니다.

무작위적 불량은 반도체 FAB 내 먼지(Defect)에 의해 발생된 불량으로, 어쩔 수 없는 불량입니다.

구조적 불량은, 공정을 잘못했거나, 공정 및 회로 설계에 오류가 되어있을때 발생하는 불량입니다.

따라서 수율을 올릴때 구조적 불량에 집중에서 올리며, 공정 및 FAB 기술이 발전할 때마다 점진적으로 무작위적인 불량을 해결합니다.

 

FAB에 기술력은 무작위적 불량으로 볼 수 있고, 제품 및 공정 기술력은 구조적 불량으로 볼 수 있겠네요.

 

이는 반도체 외에 모든 제조 업체에서 마찬가지지만, 만들 제품을 10개 넣었을 때 10개 모두 다 잘 나와야 제작비에 손실이 덜합니다. 수율은 회사 이익에 크게 직결되며, 품질로도 잠재 불량이 적다는 의미로 제품 자체에도 중요합니다.

 

반도체 수율만의 특징은 워낙 공정도 많고 수많은 물리 및 화학적 원인에 의해서 발생하므로 이에 대한 이해를 바탕으로 높인다는 특징이 있습니다.